Ученые из Германии добились большей эффективности метода просвечивающей микроскопии.
Как пишет издание Physical Review Letters, они включили в рассмотрение помимо амплитуды фазу волновых функций, проходящих через образец электронов.
Исследователи смогли сделать не только фотоснимок, но и голограмму образца. После, используя компьютерное моделирование, они приступили к восстановлению.
Благодаря данной методике ученые устранили искажения и смогли рассмотреть полную структуру образца.
Эффективность новой разработки было успешно опробовано на практике. Сначала ученые просвечивали тонкий слой из диселенида вольфрама, а после восстанавливали изначальную структуру образца, используя разработанную для этих целей программу.
